Měření plošné rezistivity

Systémy hloubkového měření

EddyCus® TF inline

  • +  Bezkontaktní a v reálném čase
  • +  0.001 – 1000 Ω/čtverec (pro jeden snímač)
  • +  Vakuové i bezvakuové verze
  • +  Jednopruhové i vícepruhové systémy
  • +  Až 3000 vzorků za vteřinu

Měření plošné rezistivity

Série EddyCus® TF inline v sobě spojuje standardizovaný a volitelný hardware pro komplexní zajištění kvality u automatizovaných výrobních linek. Zkušební testy hloubkového využití zahrnují měření tloušťky a plošné rezistivity. Eddy Current usnadňuje přehledné sledování průběhu pokovení během celého výrobního procesu a dostupná hardwarová platforma poskytuje vysokou variabilitu a flexibilitu dle konkrétních požadavků zákazníků. Tento bezkontaktní hloubkový systém je užitečný pro zajištění kvality v:
  • Procesech pokovování
  • Procesech žíhání
  • Procesech dotování

Žádost o nabídku

Využití

  • Architektonické sklo
  • Dotykové obrazovky a ploché monitory
  • OLED přístroje
  • Výrobky z chytrého skla
  • Průhledné antistatické fólie
  • Fotovoltaické články
  • Rozmrazovací a ohřívací přístroje
  • Baterie
Průhledný tenký potah Kovové tenké potahy
ITO (směsný oxid india a cínu) Hliník
Uhlíkové nanotrubky a nanopletiva Molybden
Grafenové potahy Stříbro
Kovová nanovlákna a nanomřížky Měď
Potahy z nanočástic a mnohé další

Software & ovládání

Ovládání EddyCus® TF zahrnuje moduly pro vykreslení dat, uložení dat, kontrolu dat a jejich export. Pro výměnu dat je systém připojen k průmyslovému počítači nebo MES přes ethernetové, RS 232 nebo RS 485 připojení.
  • Znázornění plošné rezistivity nebo tloušťky v reálném čase
  • Součástí je SQL databáze umožňující přehledné ukládání a analýzu dat
  • Kontrola dat, statické přehledy a hlášení
  • Možnost různých rozhraní
SURAGUS Control Software for Sheet Resistance Analysis

EddyCus® TF inline

EddyCus® TF inline zahrnuje systémy měření plošné rezistivity a tloušťky vrstvy pro hloubkové měření v rámci zajištění kvality a procesní kontroly.

  • Kontrola plošné rezistivity [Ω/čtverec]
  • Kontrola tloušťky tenkého potahu [nm]
  • Kontrola tloušťky stěny z nízko a vysoce vodivých podkladů [µm]
Žádost o nabídku
Stáhnout list s technickými údaji
Non-Contact Testing System Sheet Resistance Analysis

Výkon & nastavení

EddyCus® TF inline
Měření velikosti mezery 1 / 5 / 10 / 25 / 50 mm (na požádání i jiná)
Počet párů snímačů 1 - 99
Podklady Sklo / PET fólie / Destička
Vodivé vrstvy Kovy / TCO materiály / CNT materiály / Nanodráty / Grafen / Mřížky
Rozpětí plošné rezistivity pokryté každým snímačem 0.001 – 10 Ω/čtverec < 2% přesnost
10 – 100 Ω/čtverec < 3% přesnost
100 – 1 000 Ω/čtverec < 5% přesnost
Prostředí Bezvakuové / vakuové
< 60 °C/ 140 °F (na požádání < 90 °C/ 194 °F)
Vzorkovací frekvence 1 / 10 /50 /100 /1000 vzorků za vteřinu (na požádání i vyšší)
Tloušťka 2 nm až 2 mm podle plošné rezistivity
Další zabudovaná měření Tloušťka podkladu a přenos tepla / optický přenos
Další dostupné zabudované funkce Hardwarová spoušť / čtečka datamatrix a čárových kódů