Pomiar rezystancji powierzchniowej

Przepływowe systemy pomiarowe

EddyCus® TF inline

  • +  Bezdotykowy pomiar w czasie rzeczywistym
  • +  0.001–1000 omów na kwadrat (przez jeden czujnik)
  • +  Wersja do wykonywania pomiarów w próżni i poza nią
  • +  Rozwiązania jedno- i wielotorowe
  • +  Do 3.000 próbek na sekundę

Pomiar rezystancji powierzchniowej

W skład serii urządzeń EddyCus® TF inline wchodzi standardowy i niestandardowy sprzęt służący do zintegrowanych pomiarów jakościowych w automatycznych liniach produkcyjnych. Realizowane przez urządzenia zadania z zakresu testowania obejmują pomiar grubości oraz rezystancji powierzchniowej. Testowanie wiroprądowe umożliwia wszechstronne monitorowanie procesów osadzania w obrębie całej linii produkcyjnej, a dostępna platforma sprzętowa udostępnia szeroki i elastyczny zakres opcji umożliwiających spełnienie konkretnych wymogów klientów. To bezdotykowe rozwiązanie przepływowe służy do wykonywania pomiarów jakościowych w:
  • procesach osadzania
  • procesach odprężania
  • procesach utraty właściwości

Prześlij żądanie wyceny

Zastosowania

  • Szkło architektoniczne
  • Ekrany dotykowe i płaskie monitory
  • Organiczne diody elektroluminescencyjne
  • Inteligentne zastosowanie szkła
  • Przezroczyste folie antystatyczne
  • Ogniwa fotowoltaiczne
  • Rozwiązania do rozmrażania i ogrzewania
  • Baterie
Cienka folia przezroczysta Cienka folia metaliczna
ITO (roztwór stały tlenku indu i tlenku cyny) Aluminum
Nanorurki węglowe i nanopąki Molibden
Powłoki grafenowe Srebro
Metalowe nanodruty i nanosiatki Miedź
Powłoki z nanocząstek i wiele innych

Oprogramowanie & obsługa

TOprogramowanie EddyCus® TF inline control jest wyposażone w moduły do przedstawiania danych, przechowywania ich, analizy i eksportu. System jest podłączony do komputera przemysłowego lub systemu realizacji produkcji (MES) za pośrednictwem sieci Ethernet, standardu RS 232 lub RS 485, co umożliwia wymianę danych.
  • Reprezentacja rezystancji powierzchniowej lub grubości w czasie rzeczywistym
  • Baza danych SQL umożliwiająca przechowywanie i analizę dużej ilości danych
  • Możliwość analizowania danych, tworzenia statystycznych zestawień podsumowujących i raportów
  • Dostępne są różne interfejsy
SURAGUS Control Software for Sheet Resistance Analysis

EddyCus® TF inline

Urządzenie EddyCus® TF inline wyposażono w rozwiązania do pomiaru rezystancji powierzchniowej oraz grubości warstw, które umożliwiają dokonywanie przepływowych pomiarów jakości i kontrolę procesów.

  • Monitorowanie rezystancji powierzchni [omy na kwadrat]
  • Monitorowanie grubości cienkich powłok [nm]
  • Monitorowane grubości ścianek w przypadku podłoży o wysokiej i niskiej konduktywności [µm]
Prześlij żądanie wyceny
Pobierz arkusz danych
Non-Contact Testing System Sheet Resistance Analysis

Działanie & konfiguracja

EddyCus® TF inline
Odstępy pomiarowe 1 / 5 / 10 / 25 / 50 mm (inne na żądanie)
Liczba par czujników 1 - 99
Podłoża Szkło / folie PET / płytki krzemowe
Warstwy przewodzące Metale / TCO / CNT / nanoprzewody / grafen / siatka
Zakres rezystancji powierzchniowej mierzony przez każdy czujnik 0.001–10 omów na kwadrat < z dokładnością do 2%
10–100 omów na kwadrat < z dokładnością do 3%
100–1000 omów na kwadrat < z dokładnością do 5%
Środowisko pracy W próżni i poza nią <60°C (na żądanie <90°C)
Częstotliwość analizowania próbek 1 / 10 /50 /100 /1000 próbek na sekundę (większa liczba na żądanie)
Grubość 2 nm do 2 mm odpowiednio do wartości rezystancji powierzchniowej
Dodatkowe zintegrowane funkcje pomiarowe Grubość podkładu i transmisja optyczna/temperatury
Dostępne dodatkowe wbudowane funkcje Wyzwalacz sprzętowy/DMC lub czytnik kodów kreskowych