Mesure de la Résistance Superficielle

Appareils pour Mesure dans un Point Isolé

Série EddyCus® TF lab

  • +  Sans contact, en temps réel
  • +  0.001 à 1,000 Ohm/sq
  • +  Analyse de couches encapsulées

Mesure de la Résistance Superficielle

Les instruments de la série EddyCus® TF lab sont configurés pour des mesures sans contact et en temps réel à un endroit précis de l’épaisseur et de la résistance superficielle de couches minces de faible ou forte conductivité sur verre, plaquette,   plastic ou film. Ces outils peuvent également être utilisés pour la mesure en temps réel de l’épaisseur de matériaux conducteurs tels que les films ou tôles métalliques.

Applications

  • Verre architectural
  • Ecrans tactiles & écrans plats
  • Applications OLED
  • Applications sur verre intelligent
  • Films transparents antistatiques
  • Cellules photovoltaïques
  • Applications de dégivrage & de chauffage
  • Batteries et piles
Couches minces transparentes Couches minces métalliques
TCO (ITO, AZO, FTO) Aluminum
Graphène Molybdène
CNT (nano-tubes en carbone) Zinc
Nano-fils métalliques Argent
et beaucoup d’autres et beaucoup d’autres

Logiciel & Utilisation

Le logiciel de contrôle de l’EddyCus® TF lab permet de piloter les mesures de la résistance superficielle, d’acquérir les données et de les analyser. SURAGUS propose également une version de logiciel optimisée pour l’utilisation avec un écran tactile sur un ordinateur portable ou un tablet PC approprié.
  • Visualisation en temps réel de la résistance superficielle ou de l’épaisseur
  • Module de cartographie, pour effectuer des cartographies manuelles guidées
  • Collection de jeux de données, enregistrement et export des données
Sheet Resistance Software Control

EddyCus® TF lab 2020SR

L'EddyCus® TF lab 2020SR est un outil de mesure, à un endroit précis, de la résistance superficielle et de l’épaisseur de couches pour des applications en laboratoire et sur petites échantillons.

  • Mesure de la résistance superficielle [Ohm/sq]
  • • Mesure de l’épaisseur de couches minces [nm]
  • • Mesure d’épaisseur pour des substrats de faible ou forte conductivité [µm]
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Single Point Device Sheet Resistance Testing EddyCus® TF Lab 2020
Single Point Device Sheet Resistance Testing EddyCus® TF Lab 4040

EddyCus® TF lab 4040SR

L'EddyCus® TF lab 4040SR est un outil de mesure, à un endroit précis, pour la caractérisation rapide et sans contact de la résistance superficielle et de l’épaisseur de couches minces sur des échantillons de grande taille dans des laboratoires, des centres R&D et des services industrielles d’assurance de qualité.

  • Mesure de la résistance superficielle sur des systèmes multi-couches sur demande (étude de faisabilité)
  • Mesure de l’épaisseur de couches minces et de substrats [nm]
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Télécharger la fiche technique EddyCus® 4040SR-OT Hybrid
Télécharger la fiche technique EddyCus® 4040SR-A Anisotropy

Spécifications & Configurations

EddyCus® TF lab 2020SR EddyCus® TF lab 4040SR
Mesure de la résistance superficielle Sonde de type Courant de Foucault
Mesure de l’épaisseur de substrat Sur demande
Taille de substrat 200 x 200 mm² 400 x 400 mm²
Epaisseur maximale de l’échantillon
(conditionne l’ouverture de mesure)
1 / 2 / 5 / 10 / 25 mm
(Défini par l’échantillon le plus épais)
Gammes de résistance superficielle couvertes par les différentes sondes 0.0001 – 10 Ohm/sq; 2 % accuracy & 1 % repeatability
10 – 100 Ohm/sq; 3 % accuracy & 1.5 % repeatability
100 – 500 Ohm/sq; 4 % accuracy & 2 % repeatability
100 – 1,000 Ohm/sq; 5 % accuracy & 2.5 % repeatability
1,000 – 3,000 Ohm/sq; 8 % accuracy & 4 % repeatability
Mesure d’épaisseur de couches minces En fonction de la résistance superficielle
Dimensions (h/l/p) 445 / 290 / 140 mm 660 / 760 / 310 mm