Pomiar rezystancji powierzchniowej

Jednopunktowe urządzenia pomiarowe

Seria EddyCus® TF lab

  • +  Bezdotykowy pomiar w czasie rzeczywistym
  • +  Od 0.001 do 1.000 omów na kwadrat
  • +  Pomiar zamkniętych warstw

Pomiar rezystancji powierzchniowej

Seria urządzeń EddyCus® TF lab lab została zaprojektowana specjalnie na potrzeby wykonywania w czasie rzeczywistym bezdotykowych, jednopunktowych pomiarów grubości i rezystancji cienkich powłok pokrywających szkło, płytki krzemowe, plastik czy folie o wysokiej lub niskiej konduktywności. Urządzenia służą także do wykonywania pomiarów grubości ścianek materiałów przewodzących (folii i arkuszy metalowych) w czasie rzeczywistym.

Zastosowania

  • Szkło architektoniczne
  • Ekrany dotykowe i płaskie monitory
  • Organiczne diody elektroluminescencyjne
  • Inteligentne zastosowanie szkła
  • Przezroczyste folie antystatyczne
  • Ogniwa fotowoltaiczne
  • Rozwiązania do rozmrażania i ogrzewania
  • Baterie
Cienka folia przezroczysta Cienka folia metaliczna
TCO (ITO, AZO, FTO) Aluminum
Grafen Molibden
CNT (nanorurki węglowe) Cynk
Metalowe nanodruty Srebro
i wiele innych i wiele innych

Oprogramowanie & obsługa

EddyCus® TF lab control to łatwe w obsłudze oprogramowanie do pomiaru rezystancji powierzchniowej, a także śledzenia i analizy danych. Firma SURAGUS oferuje także oprogramowanie, z którego można korzystać na urządzeniach wyposażonych w ekrany dotykowe wraz z odpowiednim notebookiem lub urządzeniem typu tablet PC, tworząc bardzo użyteczny system.
  • Reprezentacja rezystancji powierzchniowej lub grubości w czasie rzeczywistym
  • Moduł mapujący służący do sterowanego mapowania ręcznego
  • Funkcja gromadzenia zestawów danych, zapisywania i eksportowania
  • Rezystancja powierzchniowa lub stosowana grubość warstwy i podłoża są natychmiast pokazywane w oprogramowaniu
Sheet Resistance Software Control

EddyCus® TF lab 2020SR

EddyCus® TF lab 2020SR to jednopunktowe urządzenie do pomiaru rezystancji powierzchniowej i grubości warstw niewielkich próbek w zastosowaniach laboratoryjnych.

  • Monitorowanie rezystancji powierzchni [omy na kwadrat]
  • Monitorowanie grubości cienkich powłok [nm]
  • Monitorowane grubości ścianek w przypadku podłoży o wysokiej i niskiej konduktywności [µm]
Prześlij żądanie wyceny
Pobierz arkusz danych EddyCus® TF lab 2020SR

Single Point Device Sheet Resistance Testing EddyCus® TF Lab 2020
Single Point Device Sheet Resistance Testing EddyCus® TF Lab 4040

EddyCus® TF lab 4040SR

EddyCus® TF lab 4040SR to jednopunktowe urządzenie pomiarowe do szybkiej, bezdotykowej oceny rezystancji powierzchniowej i grubości warstw dużych próbek w laboratoriach, centrach badań i rozwoju oraz działach zajmujących się zapewnieniem jakości w zakładach produkcyjnych.

  • Pomiar rezystancji powierzchniowej systemów wielowarstwowych przeprowadzany na żądanie (studium wykonalności)
  • Monitorowanie grubości warstw i podłoży [nm]
Prześlij żądanie wyceny
Pobierz arkusz danych EddyCus® TF lab 4040SR
Pobierz arkusz danych EddyCus® TF lab 4040SR-OT Hybrid
Pobierz arkusz danych EddyCus® TF lab 4040SR-A Anisotropy

Działanie & konfiguracja

EddyCus® TF lab 2020SR EddyCus® TF lab 4040SR
Pomiar rezystancji powierzchniowej Czujnik wiroprądowy
Pomiar grubości podłoża Na żądanie
Powierzchnia podłoża 200 x 200 mm² 400 x 400 mm²
Maks. grubość próbki
(decyduje o rozmiarze odstępu)
1 / 2 / 5 / 10 / 25 mm
((Zdefiniowana przez najgrubszą próbkę/zastosowanie)
Zakres rezystancji powierzchniowej 0.0001 – 10 Ohm/sq; 2 % accuracy & 1 % repeatability
10 – 100 Ohm/sq; 3 % accuracy & 1.5 % repeatability
100 – 500 Ohm/sq; 4 % accuracy & 2 % repeatability
100 – 1,000 Ohm/sq; 5 % accuracy & 2.5 % repeatability
1,000 – 3,000 Ohm/sq; 8 % accuracy & 4 % repeatability
Pomiar grubości cienkich warstw Odpowiednio do wartości rezystancji powierzchniowej
Wymiary urządzenia (wys. x szer. x gł.) 445 / 290 / 140 mm 660 / 760 / 310 mm