Измерение сопротивления слоя

Системы измерения в одной точке

EddyCus® TF lab

  • +  Бесконтактные в реальном времени
  • +  От 0,001 до 1,000 Ом/кв
  • +  Измерение слоев в оболочке

Измерение сопротивления слоя

Измерительные устройства серии EddyCus® TF lab (лабораторная серия) специально разработаны для бесконтактного определения в одной точке в реальном времени толщины и сопротивления слоя тонких пленок высокой и низкой электропроводности на стекле, кристаллической решетке,   пластмассе или на фольге. Устройства могут применяться также для измерения в реальном времени толщины стенки электропроводных материалов, таких как металлическая фольга и листы металла.

Применение

  • Архитектурное стекло
  • Сенсорные экраны и плоские мониторы
  • Системы ОСИД
  • Системы «умного стекла»
  • Прозрачная антистатическая пленка
  • Фотоэлементы
  • Устройства удаления льда и нагревания
  • Батареи
Прозрачная тонкая пленка Металлические тонкие пленки
Прозрачный проводящий оксидный слой (оксид индия и олова, AZO, FTO) Алюминий
Графен Молибден
Углеродные нанотрубки Цинк
Металлические нанопровода Серебро
И многое другое И многое другое

Программное обеспечение и обращение

Для управления EddyCus® TF lab используется удобное для пользователя программное обеспечение для измерения сопротивления слоя, отслеживания и анализа данных. SURAGUS предлагает также программы для оптимизированного сенсорного экрана с соответствующим ноутбуком или планшетным ПК для обеспечения высокой степени использования системы.
  • Изображение сопротивления слоя или толщины в реальном времени
  • Модуль отображения для направленного ручного отображения
  • Собрание комплектов данных, функция сохранения и экспорта данных
  • ПО демонстрирует непосредственно сопротивление слоя или толщину соответствующего слоя и субстрата
Sheet Resistance Software Control

EddyCus® TF lab 2020SR

EddyCus® TF lab 2020SR – это устройство измерения толщины слоя и сопротивления слоя в одной точке для применения в лабораториях и с небольшими образцами.

  • Отслеживание сопротивления слоя [Ом/кв.]
  • Отслеживание толщины тонкой пленки [нм]
  • Отслеживание толщины стенки субстратов с низкой и высокой электропроводностью [мкм]
Запрос котировки
Загрузка таблицы данных EddyCus® TF lab 2020SR

Single Point Device Sheet Resistance Testing EddyCus® TF Lab 2020
Single Point Device Sheet Resistance Testing EddyCus® TF Lab 4040

EddyCus® TF lab 4040SR

EddyCus® TF lab 4040SR – это устройство измерения толщины слоя и сопротивления слоя в одной точке для получения быстрой неконтактной характеристики данных параметров для больших образцов в лабораториях, научно-исследовательских центров и отделов обеспечения качества на фирмах-производителях.

  • Измерение сопротивления слоя многослойных систем по запросу (технико-экономическое обоснование)
  • Отслеживание толщины слоя и субстрата [нм]
Запрос котировки
Загрузка таблицы данных EddyCus® TF lab 4040SR
Загрузка таблицы данных EddyCus® TF lab 4040SR-OT Hybrid
Загрузка таблицы данных EddyCus® TF lab 4040SR-A Anisotropy

Рабочие данные и установка

EddyCus® TF lab 2020SR EddyCus® TF lab 4040SR
Измерение сопротивления слоя Сенсор вихревых токов
Измерение толщины субстрата По запросу
Площадь субстрата 200 x 200 mm² 400 x 400 mm²
Макс. толщина образца
(влияет на размер зазора)
1 / 2 / 5 / 10 / 25 mm
(определяется по образцу с наибольшей толщиной/ применению)
Диапазон сопротивления слоя 0.0001 – 10 Ohm/sq; 2 % accuracy & 1 % repeatability
10 – 100 Ohm/sq; 3 % accuracy & 1.5 % repeatability
100 – 500 Ohm/sq; 4 % accuracy & 2 % repeatability
100 – 1,000 Ohm/sq; 5 % accuracy & 2.5 % repeatability
1,000 – 3,000 Ohm/sq; 8 % accuracy & 4 % repeatability
Измерение толщины тонких пленок В соответствии с сопротивлением слоя
Размеры устройства
(высота/ширина/длина)
445 / 290 / 140 mm 660 / 760 / 310 mm