Měření plošné rezistivity

Mapovací systémy

EddyCus® TF map 2525SR
EddyCus® TF map 5050SR

  • +  Rychlé bezkontaktní mapování ve vysokém rozlišení
  • +  0.001 až 1 000 Ω/čtverec
  • +  Rozsáhlá analýza dat

Měření plošné rezistivity

The EddyCus® TF map 2525SR/5050SR je určen zejména pro bezkontaktní určení tloušťky a plošné rezistivity nízko a vysoce vodivých tenkých potahů skel, destiček, plastických hmot nebo fólií. Zařízení umožňuje přesné a rychlé zmapování plošné rezistivity vodivých potahů ve vysokém prostorovém rozlišení a sledování tloušťky kovových potahů. Tento bezkontaktní mapovací systém je užitečný pro zajištění kvality v:
  • Procesech pokovování
  • Procesech žíhání
  • Procesech dotování

Applications

  • Architektonické sklo
  • Dotykové obrazovky a ploché monitory
  • OLED přístroje
  • Výrobky z chytrého skla
  • Průhledné antistatické fólie
  • Fotovoltaické články
  • Rozmrazovací a ohřívací přístroje
  • Baterie
Průhledný tenký potah Kovové tenké potahy
TCO (ITO, FTO, AZO, ATO) materiály Hliník
Uhlíkové nanotrubky a nanopletiva Molybden
Grafenové potahy Stříbro
Kovová nanovlákna a nanomřížky Měď
Potahy z nanočástic a mnohé další

Software & ovládání

Detektor plošné rezistivity je uživatelsky přívětivý software pro konfiguraci systému a kontrolu dat. Výsledky testovacích procesů jsou dokresleny grafickými výstupy. Doplňkové histogramy a softwarové nástroje umožňují provést podrobné měření rezistence.
  • Rychlé automatizované mapování
  • Uživatelsky přívětivá statistická analýza
  • Funkce analýzy a exportu dat
Sheet Resistance Analyzer Software Control

EddyCus® TF map 2525SR

EddyCus® TF map 5050SR

EddyCus® TF map 2525SR/5050SR je přístroj na rychlé zmapování plošné rezistivity, tloušťky, homogenity vrstev, schopnosti vodivosti a vad u vodivých potahů a tenkých povlakových materiálů na sklo, destiček a fólií. Existují různé bezkontaktní testovací systémy splňující různé požadavky.

  • Kontrola plošné rezistivity [Ω/čtverec]
  • Kontrola tloušťky tenkého potahu [nm]
  • Kontrola tloušťky stěny z nízko a vysoce vodivých podkladů [µm]
Žádost o nabídku
Stáhnout list s technickými údaji
EddyCus® TF map 2525SR
Stáhnout list s technickými údaji
EddyCus® TF map 5050SR
Non-Destructive Testing Device EddyCus TF map 2020SR

Výkon & nastavení

EddyCus® TF map 2525SR EddyCus® TF map 5050SR
Sheet Resistance Measurement yes
Thickness Measurement yes
Optical transmission optional
Anisotropy determination optional
Sheet resistance & metal thickness measurement Non-contact eddy current sensor
Substrate thickness measurement Ultrasonic sensor
Max. scanning area 10 inch / 254 x 254 mm
(larger on request)
20 inch / 508 x 508 mm
(larger on request)
Max. sample thickness
(defines distances)
2 / 5 / 10 mm (other on request)
(Defined by the thickest sample/application)
Sheet resistance range 0.001 – 10 Ohm/sq < 2% accuracy
10 – 100 Ohm/sq < 3% accuracy
100 – 1.000 Ohm/sq < 5% accuracy
Scanning time
@ 1 – 10 mm measurement pitch
100 x 100 mm in 0.5 to 5 minutes
200 x 200 mm in 1.5 to 15 minutes
200 x 200 mm in 1.5 to 15 minutes
300 x 300 mm in 3 to 30 minutes
Thickness mapping of metal films (e.g. copper) 2 nm – 2 mm
(in accordance with sheet resistance range)
Scanning pitch 1 / 2 / 5 / 10 mm (other on request)
Device size (h/w/d) 230 / 600 / 800 mm 290 / 1180 / 900 mm
Weight 27.0 kg 120.0 kg
Available features Metal thickness tester
Anisotropy sheet resistance sensor
Optical transmission sensors at 632 nm wavelength