Pomiar rezystancji powierzchniowej

Rozwiązania do mapowania

EddyCus® TF map 2525SR
EddyCus® TF map 5050SR

  • +  Bezdotykowe i szybkie mapowanie w wysokiej rozdzielczości
  • +  Od 0.001 do 1.000 omów na kwadrat
  • +  Szeroko zakrojona analiza danych

Pomiar rezystancji powierzchniowej

Model EddyCus® TF map 2525SR/5050SR izostał zaprojektowany specjalnie na potrzeby wykonywania w czasie rzeczywistym bezdotykowych pomiarów grubości i rezystancji cienkich powłok pokrywających szkło, płytki krzemowe, plastik czy folie o wysokiej lub niskiej konduktywności. Urządzenie służy do szybkiego i dokładnego mapowania z dużą rozdzielczością rezystancji powierzchniowej powłok konduktywnych oraz monitorowania grubości powłok metalowych. To rozwiązanie do bezdotykowego mapowania doskonale sprawdza się w warunkach, gdy istnieje konieczność potwierdzenia wymaganego poziomu jakości w:
  • procesach osadzania
  • procesach odprężania
  • procesach utraty właściwości

Prześlij żądanie wyceny

Zastosowania

  • Szkło architektoniczne
  • Ekrany dotykowe i płaskie monitory
  • Organiczne diody elektroluminescencyjne
  • Inteligentne zastosowanie szkła
  • Przezroczyste folie antystatyczne
  • Ogniwa fotowoltaiczne
  • Rozwiązania do rozmrażania i ogrzewania
  • Baterie
Cienka folia przezroczysta Cienka folia metaliczna
TCO (ITO, FTO, AZO, ATO) Aluminum
Nanorurki węglowe i nanopąki Molibden
Powłoki grafenowe Srebro
Metalowe nanodruty i nanosiatki Miedź
Powłoki z nanocząstek i wiele innych

Oprogramowanie & obsługa

Analizator rezystancji powierzchniowej to łatwe w obsłudze oprogramowanie do konfiguracji systemu i analizy danych. Wyniki przeprowadzonych testów są przedstawiane w sposób graficzny. Dzięki dodatkowym histogramom i narzędziom programowym jest to dokładny system do pomiaru rezystancji.
  • Szybkie mapowanie automatyczne
  • Łatwe w obsłudze opcje analiz statystycznych
  • Funkcja analizy i eksportu danych
Sheet Resistance Analyzer Software Control

EddyCus® TF map 2525SR

EddyCus® TF map 5050SR

EddyCus® TF map 2525SR/5050SR to miernik do szybkiego mapowania rezystancji powierzchniowej, grubości, jednorodności warstw, konduktywności i defektów powłok przewodzących i cienkich materiałów naniesionych na szkło, płytki krzemowe lub folie. W zależności od wymogów dostępne są różne rozwiązania do testowania bezdotykowego.

  • Monitorowanie rezystancji powierzchni [omy na kwadrat]
  • Monitorowanie grubości cienkich powłok [nm]
  • Monitorowane grubości ścianek w przypadku podłoży o wysokiej i niskiej konduktywności [µm]
Prześlij żądanie wyceny
Pobierz arkusz danych
EddyCus® TF map 2525SR
Pobierz arkusz danych
EddyCus® TF map 5050SR
Non-Destructive Testing Device TF map 2020SR

Działanie & konfiguracja

EddyCus® TF map 2525SR EddyCus® TF map 5050SR
Sheet Resistance Measurement yes
Thickness Measurement yes
Optical transmission optional
Anisotropy determination optional
Sheet resistance & metal thickness measurement Non-contact eddy current sensor
Substrate thickness measurement Ultrasonic sensor
Max. scanning area 10 inch / 254 x 254 mm
(larger on request)
20 inch / 508 x 508 mm
(larger on request)
Max. sample thickness
(defines distances)
2 / 5 / 10 mm (other on request)
(Defined by the thickest sample/application)
Sheet resistance range 0.001 – 10 Ohm/sq < 2% accuracy
10 – 100 Ohm/sq < 3% accuracy
100 – 1.000 Ohm/sq < 5% accuracy
Scanning time
@ 1 – 10 mm measurement pitch
100 x 100 mm in 0.5 to 5 minutes
200 x 200 mm in 1.5 to 15 minutes
200 x 200 mm in 1.5 to 15 minutes
300 x 300 mm in 3 to 30 minutes
Thickness mapping of metal films (e.g. copper) 2 nm – 2 mm
(in accordance with sheet resistance range)
Scanning pitch 1 / 2 / 5 / 10 mm (other on request)
Device size (h/w/d) 230 / 600 / 800 mm 290 / 1180 / 900 mm
Weight 27.0 kg 120.0 kg
Available features Metal thickness tester
Anisotropy sheet resistance sensor
Optical transmission sensors at 632 nm wavelength