Pomiary rezystancji powierzchniowej

przy użyciu urządzeń serii EddyCus® TF

Seria EddyCus® TF (thin-film) składa się z zestawu urządzeń do bezkontaktowego testowania rezystancji powierzchniowej cienkich powłok w czasie rzeczywistym przy zastosowaniu techniki bezstykowego testowania za pomocą prądów wirowych. Systemy te mogą być również wykorzystywane do wyznaczania charakterystyk wrażliwych powłok oraz ukrytych lub zamkniętych warstw w szkle, waflach krzemowych lub foliach. Zastosowania:

  • Pomiary rezystancji powierzchniowej w zakresie od 0.1 mOhm/sq do 3.000 Ohm/sq
  • Pomiary grubości warstwy powłok metalowych w zakresie od 5 nm do 500 mikronów
  • Mapowanie przewodności właściwej od 1& IACS (0.6 MS/m)
Zapytanie ofertowe

Rozwiązania dla pomiarów rezystancji powierzchniowej

JEDNOPUNKTOWE URZĄDZENIA POMIAROWE

ROZWIĄZANIA DO MAPOWANIA

SYSTEMY POMIAROWE DO KONTROLI JAKOŚCI

EddyCus® TF lab 2020SR/4040SR

Urządzenia laboratoryjne EddyCus® TF lab są nablatowymi systemami przeznaczonymi do szybkiego bezkontaktowego wyznaczania charakterystyk powłok w laboratoriach, centrach badań i rozwoju oraz działach kontroli jakości w fabrykach i zakładach produkcyjnych.

EddyCus® TF map 2525SR/5050SR

Seria EddyCus® TF map jest przeznaczona do szybkiego mapowania rezystancji powierzchniowej, badania jednorodności warstw i wykrywania miejscowych nieciągłości i defektów. Systemy są dostępne jako oddzielne stanowiska testowe lub urządzenia nablatowe.

EddyCus® TF inline

Urządzenia serii EddyCus® TF inline są wyposażone w zestawy integrujące z urządzeniami do powlekania, umożliwiając bezstykowe monitorowanie rezystancji powierzchniowej oraz sterowanie procesami depozycji cienkich powłok przewodzących w linii produkcyjnej.

Zastosowania testów

  • Pomiary rezystancji powierzchniowej / pomiary rezystywności powierzchniowej do oceny procesów depozycji, odprężania, domieszkowania, ablacji i utleniania (starzenia)
  • Testowanie grubości powłok metalowych.

Zastosowania testów

  • Mapowanie rezystancji TCO/TCM, metalizacji i wafli krzemowych
  • Mapowanie grubości warstwy cienkich powłok metalowych
  • Mapowanie jednorodności i wykrywanie defektów (np. zanieczyszczeń, pęknięć, efektów depozycji)
  • Ocena strukturalnych cienkich powłok przewodzących
  • Wykrywanie pęknięć, testowanie wafli krzemowych i sortowanie (klasyfikacja) materiałów

Zastosowania testów

  • Pomiary rezystancji powierzchniowej w linii produkcyjnej i optymalizacja zastosowań docelowych
  • Pomiary grubości powłoki cienkich filmów metalicznych w linii produkcyjnej
  • Pomiary grubości podłoża
  • Wykrywanie pęknięć, testowanie wafli krzemowych i sortowanie materiału.

Materiały & Branże

Powłoki przezroczyste

Obszary zastosowań

Powłoki metaliczne

  • TCO (ITO, FTO, AZO, ATO)
  • CNT (nanorurki węglowe)
  • Metalowe nanodruty
  • Powłoki grafenowe
  • Inne
  • Branża architektoniczna/szkło float
  • Folie i materiały opakowaniowe
  • Folie PV (fotowoltaiczne)/solarne i antystatyczne
  • Ekrany dotykowe i płaskie monitory
  • Zastosowania w technologii LED/OLED i Smart-Glass
  • Przemysł półprzewodnikowy
  • Zastosowania do odmrażania i ogrzewania
  • Miedź
  • Aluminium
  • Molibden
  • Cynk
  • Srebro
  • Inne