Applications
- Architektonické sklo
- Dotykové obrazovky a ploché monitory
- OLED přístroje
- Výrobky z chytrého skla
- Průhledné antistatické fólie
- Fotovoltaické články
- Rozmrazovací a ohřívací přístroje
- Baterie
Měření plošné rezistivity
The EddyCus® TF map 2525SR/5050SR je určen zejména pro bezkontaktní určení tloušťky a plošné rezistivity nízko a vysoce vodivých tenkých potahů skel, destiček, plastických hmot nebo fólií. Zařízení umožňuje přesné a rychlé zmapování plošné rezistivity vodivých potahů ve vysokém prostorovém rozlišení a sledování tloušťky kovových potahů. Tento bezkontaktní mapovací systém je užitečný pro zajištění kvality v:
- Procesech pokovování
- Procesech žíhání
- Procesech dotování
| Průhledný tenký potah | Kovové tenké potahy |
|---|---|
| TCO (ITO, FTO, AZO, ATO) materiály | Hliník |
| Uhlíkové nanotrubky a nanopletiva | Molybden |
| Grafenové potahy | Stříbro |
| Kovová nanovlákna a nanomřížky | Měď |
| Potahy z nanočástic | a mnohé další |
Software & ovládání
Detektor plošné rezistivity je uživatelsky přívětivý software pro konfiguraci systému a kontrolu dat. Výsledky testovacích procesů jsou dokresleny grafickými výstupy. Doplňkové histogramy a softwarové nástroje umožňují provést podrobné měření rezistence.
- Rychlé automatizované mapování
- Uživatelsky přívětivá statistická analýza
- Funkce analýzy a exportu dat
Mapovací systémy
EddyCus® TF map 2525SR /
EddyCus® TF map 5050SR
EddyCus® TF map 2525SR/5050SR je přístroj na rychlé zmapování plošné rezistivity, tloušťky, homogenity vrstev, schopnosti vodivosti a vad u vodivých potahů a tenkých povlakových materiálů na sklo, destiček a fólií. Existují různé bezkontaktní testovací systémy splňující různé požadavky.
- Kontrola plošné rezistivity [Ω/čtverec]
- Kontrola tloušťky tenkého potahu [nm]
- Kontrola tloušťky stěny z nízko a vysoce vodivých podkladů [µm]
Výkon & nastavení
| EddyCus® TF map 2525 SR | EddyCus® TF map 5050 SR | |
|---|---|---|
| Sheet Resistance Measurement | Yes | |
| Thickness Measurement | Yes | |
| Optical Transmission | Optional | |
| Anisotropy Determination | Optional | |
| Sheet Resistance & Metal Thickness Measurement | Non-Contact Eddy Current Sensor | |
| Substrate Thickness Measurement | Ultrasonic Sensor | |
| Max. Scanning Area | 10 inch / 254 x 254 mm | 20 inch / 508 x 508 mm |
| Max. Sample Thickness (defines distances) |
2 / 5 / 10 / 14 mm (Defined by the thickest sample/application) |
|
| Sheet Resistance Range | 0,001 – 10 Ohm/sq; <2 % accuracy 10 – 100 Ohm/sq; < 3 % accuracy 100 – 1.000 Ohm/sq; < 5 % accuracy |
|
| Thickness Mapping of Metal Films (e.g. copper) | 2 nm - 2mm (in accordance with sheet resistance) |
|
| Scanning Time @ 1 - 10 mm Measurement Pitch | 4 inch / 100 x 100 mm in 0.5 to 5 minutes 8 inch / 200 x 200 mm in 1.5 to 15 minutes |
8 inch / 200 x 200 mm in 1.5 to 15 minutes 12 inch / 300 x 300 mm in 3 to 30 minutes |
| Scanning Pitch | 1 / 2 / 5 / 10 mm (other on request) | |
| Device Sizes (h/w/d) | 230 / 600 / 800 mm | 290 / 1180 / 900 mm |
| Weight | 27,0 kg | 120,0 kg |
| Available Features | Metal thickness tester Anisotropy sheet resistance sensor Optical transmission sensors at 632 nm wavelength |
|
ŽÁDOST O NABÍDKU