Usos
- Vidrio arquitectónico
- Pantallas táctiles y planas
- Aplicaciones de OLED
- Aplicaciones de vidrio inteligente
- Películas antiestáticas transparentes
- Células fotovoltaicas
- Aplicaciones de descongelación y calefacción
- Baterías
Medición de la resistencia superficial
EddyCus® TF map 2525SR/5050SR se ha diseñado específicamente para la determinación, sin contacto y en tiempo real, de la resistencia superficial y el grosor de películas finas con alta y baja conductividad sobre vidrio, obleas, plásticos y láminas delgadas. Los dispositivos permiten realizar un mapeo preciso, rápido y con gran resolución de la resistencia superficial de las películas conductoras, y supervisar el grosor de las películas metálicas. Esta solución de mapeo sin contacto resulta muy útil para los controles de calidad de los siguientes procesos:
- Procesos de deposición
- Procesos de recocido
- Procesos de dopado
| Película fina transparente | Películas metálicas finas |
|---|---|
| Óxidos conductores transparentes (ITO, FTO, AZO, ATO) | Aluminio |
| Nanotubos y nanoyemas (nanobuds) de carbono | Molibdeno |
| Películas de grafeno | Plata |
| Nanohilos y nanomallas metálicos | Cobre |
| Películas de nanopartículas | Y muchas otras |
Software & manipulación
El analizador de la resistencia superficial es un software fácil de usar que permite configurar el sistema y revisar los datos. Los resultados de los ensayos se ilustran con gráficas. Además, gracias a otros histogramas y a herramientas adicionales, se consigue un sistema de medición detallada de la resistencia.
- Mapeo rápido y automatizado
- Análisis estadístico sencillo
- Posibilidad de exportar el análisis y los datos
Soluciones de mapeo
EddyCus® TF map 2525SR /
EddyCus® TF map 5050SR
EddyCus® TF map 2525SR/5050SR es un dispositivo que permite realizar un mapeo rápido de la resistencia superficial, el grosor, la homogeneidad de las capas y los efectos y defectos de la conductividad de películas conductoras y materiales finos dispuestos sobre vidrio, obleas y láminas delgadas. Existen distintas soluciones para realizar ensayos sin contacto que se adaptan a las diferentes necesidades.
- Control de la resistencia superficial [ohmios/cuadrado]
- Control del grosor de películas finas [nm]
- Control del grosor de sustratos con elevada y baja conductividad [µm]
Prestaciones & configuración
| EddyCus® TF map 2525 SR | EddyCus® TF map 5050 SR | |
|---|---|---|
| Sheet Resistance Measurement | Yes | |
| Thickness Measurement | Yes | |
| Optical Transmission | Optional | |
| Anisotropy Determination | Optional | |
| Medición de la resistencia superficial | Sensor de corrientes Eddy sin contacto | |
| Medición del grosor de sustratos | Sensor ultrasónico | |
| Área max. de escaneo | 10 inch / 254 x 254 mm (áreas más grandes bajo pedido) |
20 inch / 508 x 508 mm (áreas más grandes bajo pedido) |
| Grosor máx. de la muestra (determina las distancias) |
2 / 5 / 10 / 14 mm (determinado por la muestra con mayor grosor) |
|
| Rango de resistencia superficial | 0,001 – 10 ohmios/cuadrado, con un margen de error < 2 % 10 – 100 ohmios/cuadrado, con un margen de error < 3 % 100 – 1.000 ohmios/cuadrado, con un margen de error < 5 % |
|
| Medición del grosor de películas metalicas (p. ej., cobre) |
2 nm – 2 mm (en función de la resistencia superficial) |
|
| Tiempo de escaneo con un paso de @ 1 – 10 mm |
100 x 100 mm in 0.5 to 5 minutes 200 x 200 mm in 1.5 to 15 minutes |
200 x 200 mm in 1.5 to 15 minutes 300 x 300 mm in 3 to 30 minutes |
| Paso de escaneo | 1 / 2 / 5 / 10 mm (other on request) | |
| Dimensiones (altura / anchura / profundidad) | 230 / 600 / 800 mm | 290 / 1180 / 900 mm |
| Peso | 27,0 kg | 120,0 kg |
| Funciones disponibles | Metal thickness tester Anisotropy sheet resistance sensor Optical transmission sensors at 632 nm wavelength |
|
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