Seria EddyCus® TF (thin-film) składa się z zestawu urządzeń do bezkontaktowego testowania rezystancji powierzchniowej cienkich powłok w czasie rzeczywistym przy zastosowaniu techniki bezstykowego testowania za pomocą prądów wirowych. Systemy te mogą być również wykorzystywane do wyznaczania charakterystyk wrażliwych powłok oraz ukrytych lub zamkniętych warstw w szkle, waflach krzemowych lub foliach. Zastosowania:
- Pomiary rezystancji powierzchniowej w zakresie od 0,1 mOhm/sq do 3.000 Ohm/sq
- Pomiary grubości warstwy powłok metalowych w zakresie od 5 nm do 500 mikronów
- Mapowanie przewodności właściwej od 1& IACS (0.6 MS/m)
Rozwiązania dla pomiarów rezystancji powierzchniowej
JEDNOPUNKTOWE URZĄDZENIA POMIAROWE
Urządzenia laboratoryjne EddyCus® TF lab są nablatowymi systemami przeznaczonymi do szybkiego bezkontaktowego wyznaczania charakterystyk powłok w laboratoriach, centrach badań i rozwoju oraz działach kontroli jakości w fabrykach i zakładach produkcyjnych.
PRZEŚLIJ ŻĄDANIE WYCENY
Zastosowania testów
- Pomiary rezystancji powierzchniowej / pomiary rezystywności powierzchniowej do oceny procesów depozycji, odprężania, domieszkowania, ablacji i utleniania (starzenia)
- Testowanie grubości powłok metalowych.
SYSTEMY POMIAROWE DO KONTROLI JAKOŚCI
Urządzenia serii EddyCus® TF inline są wyposażone w zestawy integrujące z urządzeniami do powlekania, umożliwiając bezstykowe monitorowanie rezystancji powierzchniowej oraz sterowanie procesami depozycji cienkich powłok przewodzących w linii produkcyjnej.
PRZEŚLIJ ŻĄDANIE WYCENY
Zastosowania testów
- Pomiary rezystancji powierzchniowej w linii produkcyjnej i optymalizacja zastosowań docelowych
- Pomiary grubości powłoki cienkich filmów metalicznych w linii produkcyjnej
- Pomiary grubości podłoża
- Wykrywanie pęknięć, testowanie wafli krzemowych i sortowanie materiału.
ROZWIĄZANIA DO MAPOWANIA
Seria EddyCus® TF map jest przeznaczona do szybkiego mapowania rezystancji powierzchniowej, badania jednorodności warstw i wykrywania miejscowych nieciągłości i defektów. Systemy są dostępne jako oddzielne stanowiska testowe lub urządzenia nablatowe.
PRZEŚLIJ ŻĄDANIE WYCENY
Zastosowania testów
- Mapowanie rezystancji TCO/TCM, metalizacji i wafli krzemowych
- Mapowanie grubości warstwy cienkich powłok metalowych
- Mapowanie jednorodności i wykrywanie defektów (np. zanieczyszczeń, pęknięć, efektów depozycji)
- Ocena strukturalnych cienkich powłok przewodzących
- Wykrywanie pęknięć, testowanie wafli krzemowych i sortowanie (klasyfikacja) materiałów
Materiały & Branże
Powłoki przezroczyste
- TCO (ITO, FTO, AZO, ATO)
- CNT (nanorurki węglowe)
- Metalowe nanodruty
- Powłoki grafenowe
- Inne
Powłoki metaliczne
- Miedź
- Aluminium
- Molibden
- Cynk
- Srebro
- Inne
Obszary zastosowań
- Branża architektoniczna/szkło float
- Folie i materiały opakowaniowe
- Folie PV (fotowoltaiczne)/solarne i antystatyczne
- Ekrany dotykowe i płaskie monitory
- Zastosowania w technologii LED/OLED i Smart-Glass
- Przemysł półprzewodnikowy
- Zastosowania do odmrażania i ogrzewania