Zastosowania
- Szkło architektoniczne
- Ekrany dotykowe i płaskie monitory
- Organiczne diody elektroluminescencyjne
- Inteligentne zastosowanie szkła
- Przezroczyste folie antystatyczne
- Ogniwa fotowoltaiczne
- Rozwiązania do rozmrażania i ogrzewania
- Baterie
Pomiar rezystancji powierzchniowej
Model EddyCus® TF map 2525SR/5050SR izostał zaprojektowany specjalnie na potrzeby wykonywania w czasie rzeczywistym bezdotykowych pomiarów grubości i rezystancji cienkich powłok pokrywających szkło, płytki krzemowe, plastik czy folie o wysokiej lub niskiej konduktywności. Urządzenie służy do szybkiego i dokładnego mapowania z dużą rozdzielczością rezystancji powierzchniowej powłok konduktywnych oraz monitorowania grubości powłok metalowych. To rozwiązanie do bezdotykowego mapowania doskonale sprawdza się w warunkach, gdy istnieje konieczność potwierdzenia wymaganego poziomu jakości w:
- procesach osadzania
- procesach odprężania
- procesach utraty właściwości
| Cienka folia przezroczysta | Cienka folia metaliczna |
|---|---|
| TCO (ITO, FTO, AZO, ATO) | Aluminum |
| Nanorurki węglowe i nanopąki | Molibden |
| Powłoki grafenowe | Srebro |
| Metalowe nanodruty i nanosiatki | Miedź |
| Powłoki z nanocząstek | i wiele innych |
Oprogramowanie & obsługa
Analizator rezystancji powierzchniowej to łatwe w obsłudze oprogramowanie do konfiguracji systemu i analizy danych. Wyniki przeprowadzonych testów są przedstawiane w sposób graficzny. Dzięki dodatkowym histogramom i narzędziom programowym jest to dokładny system do pomiaru rezystancji.
- Szybkie mapowanie automatyczne
- Łatwe w obsłudze opcje analiz statystycznych
- Funkcja analizy i eksportu danych
Rozwiązania do mapowania
EddyCus® TF map 2525SR /
EddyCus® TF map 5050SR
EddyCus® TF map 2525SR/5050SR to miernik do szybkiego mapowania rezystancji powierzchniowej, grubości, jednorodności warstw, konduktywności i defektów powłok przewodzących i cienkich materiałów naniesionych na szkło, płytki krzemowe lub folie. W zależności od wymogów dostępne są różne rozwiązania do testowania bezdotykowego.
- Monitorowanie rezystancji powierzchni [omy na kwadrat]
- Monitorowanie grubości cienkich powłok [nm]
- Monitorowane grubości ścianek w przypadku podłoży o wysokiej i niskiej konduktywności [µm]
Działanie & konfiguracja
| EddyCus® TF map 2525 SR | EddyCus® TF map 5050 SR | |
|---|---|---|
| Sheet Resistance Measurement | Yes | |
| Thickness Measurement | Yes | |
| Optical Transmission | Optional | |
| Anisotropy Determination | Optional | |
| Sheet Resistance & Metal Thickness Measurement | Non-Contact Eddy Current Sensor | |
| Substrate Thickness Measurement | Ultrasonic Sensor | |
| Max. Scanning Area | 10 inch / 254 x 254 mm | 20 inch / 508 x 508 mm |
| Max. Sample Thickness (defines distances) |
2 / 5 / 10 / 14 mm (Defined by the thickest sample/application) |
|
| Sheet Resistance Range | 0.001 – 10 Ohm/sq; <2 % accuracy 10 – 100 Ohm/sq; < 3 % accuracy 100 – 1,000 Ohm/sq; < 5 % accuracy |
|
| Thickness Mapping of Metal Films (e.g. copper) | 2 nm - 2mm (in accordance with sheet resistance) |
|
| Scanning Time @ 1 - 10 mm Measurement Pitch | 4 inch / 100 x 100 mm in 0.5 to 5 minutes 8 inch / 200 x 200 mm in 1.5 to 15 minutes |
8 inch / 200 x 200 mm in 1.5 to 15 minutes 12 inch / 300 x 300 mm in 3 to 30 minutes |
| Scanning Pitch | 1 / 2 / 5 / 10 mm (other on request) | |
| Device Sizes (h/w/d) | 230 / 600 / 800 mm | 290 / 1180 / 900 mm |
| Weight | 27.0 kg | 120.0 kg |
| Available Features | Metal thickness tester Anisotropy sheet resistance sensor Optical transmission sensors at 632 nm wavelength |
|
PRZEŚLIJ ŻĄDANIE WYCENY