Zastosowania
- Szkło architektoniczne
- Ekrany dotykowe i płaskie monitory
- Organiczne diody elektroluminescencyjne
- Inteligentne zastosowanie szkła
- Przezroczyste folie antystatyczne
- Ogniwa fotowoltaiczne
- Rozwiązania do rozmrażania i ogrzewania
- Baterie
Pomiar rezystancji powierzchniowej
Seria urządzeń EddyCus® TF lab lab została zaprojektowana specjalnie na potrzeby wykonywania w czasie rzeczywistym bezdotykowych, jednopunktowych pomiarów grubości i rezystancji cienkich powłok pokrywających szkło, płytki krzemowe, plastik czy folie o wysokiej lub niskiej konduktywności. Urządzenia służą także do wykonywania pomiarów grubości ścianek materiałów przewodzących (folii i arkuszy metalowych) w czasie rzeczywistym.
| Cienka folia przezroczysta | Cienka folia metaliczna |
|---|---|
| TCO (ITO, AZO, FTO) | Aluminum |
| Grafen | Molibden |
| CNT (nanorurki węglowe) | Cynk |
| Metalowe nanodruty | Srebro |
| i wiele innych | i wiele innych |
Oprogramowanie & obsługa
EddyCus® TF lab control to łatwe w obsłudze oprogramowanie do pomiaru rezystancji powierzchniowej, a także śledzenia i analizy danych. Firma SURAGUS oferuje także oprogramowanie, z którego można korzystać na urządzeniach wyposażonych w ekrany dotykowe wraz z odpowiednim notebookiem lub urządzeniem typu tablet PC, tworząc bardzo użyteczny system.
- Reprezentacja rezystancji powierzchniowej lub grubości w czasie rzeczywistym
- Moduł mapujący służący do sterowanego mapowania ręcznego
- Funkcja gromadzenia zestawów danych, zapisywania i eksportowania
- Rezystancja powierzchniowa lub stosowana grubość warstwy i podłoża są natychmiast pokazywane w oprogramowaniu
Jednopunktowe urządzenia pomiarowe
EddyCus® TF lab 2020 Series
EddyCus® TF lab 2020SR
EddyCus® TF lab 2020SR to jednopunktowe urządzenie do pomiaru rezystancji powierzchniowej i grubości warstw niewielkich próbek w zastosowaniach laboratoryjnych.
- Monitorowanie rezystancji powierzchni [omy na kwadrat]
- Monitorowanie grubości cienkich powłok [nm]
- Monitorowane grubości ścianek w przypadku podłoży o wysokiej i niskiej konduktywności [µm]
Single Point Sheet Resistance Tester TF lab 2020 SR PDF 875,9 KB
EddyCus® TF lab 4040 Series
EddyCus® TF lab 4040SR
EddyCus® TF lab 4040SR to jednopunktowe urządzenie pomiarowe do szybkiej, bezdotykowej oceny rezystancji powierzchniowej i grubości warstw dużych próbek w laboratoriach, centrach badań i rozwoju oraz działach zajmujących się zapewnieniem jakości w zakładach produkcyjnych.
- Pomiar rezystancji powierzchniowej systemów wielowarstwowych przeprowadzany na żądanie (studium wykonalności)
- Monitorowanie grubości warstw i podłoży [nm]
Działanie & konfiguracja
| EddyCus TF lab 2020SR | EddyCus TF lab 4040SR | |
|---|---|---|
| Pomiar rezystancji powierzchniowej | Czujnik wiroprądowy | |
| Pomiar grubości podłoża | Na żądanie | |
| Powierzchnia podłoża | 200 x 200 mm² | 400 x 400 mm² |
| Maks. grubość próbki (decyduje o rozmiarze odstępu) |
up to 14mm (20 mm na żądanie) (Zdefiniowana przez najgrubszą próbkę/zastosowanie) |
1 / 2 / 5 / 10 / 18 mm (50 mm na żądanie) (Zdefiniowana przez najgrubszą próbkę/zastosowanie) |
| Zakres rezystancji powierzchniowej | 0,0001 – 10 Ohm/sq; 2 % accuracy & 1 % repeatability 10 – 100 Ohm/sq; 3 % accuracy & 1.5 % repeatability 100 – 500 Ohm/sq; 4 % accuracy & 2 % repeatability 100 – 1.000 Ohm/sq; 5 % accuracy & 2.5 % repeatability 1.000 – 3.000 Ohm/sq; 8 % accuracy & 4 % repeatability |
|
| Pomiar grubości cienkich warstw | Odpowiednio do wartości rezystancji powierzchniowej | |
| Wymiary urządzenia (wys. x szer. x gł.) |
445 / 290 / 140 mm | 660 / 760 / 310 mm |
PRZEŚLIJ ŻĄDANIE WYCENY