Zastosowania
- Szkło architektoniczne
- Ekrany dotykowe i płaskie monitory
- Organiczne diody elektroluminescencyjne
- Inteligentne zastosowanie szkła
- Przezroczyste folie antystatyczne
- Ogniwa fotowoltaiczne
- Rozwiązania do rozmrażania i ogrzewania
- Baterie
Pomiar rezystancji powierzchniowej
W skład serii urządzeń EddyCus® TF inline wchodzi standardowy i niestandardowy sprzęt służący do zintegrowanych pomiarów jakościowych w automatycznych liniach produkcyjnych. Realizowane przez urządzenia zadania z zakresu testowania obejmują pomiar grubości oraz rezystancji powierzchniowej. Testowanie wiroprądowe umożliwia wszechstronne monitorowanie procesów osadzania w obrębie całej linii produkcyjnej, a dostępna platforma sprzętowa udostępnia szeroki i elastyczny zakres opcji umożliwiających spełnienie konkretnych wymogów klientów. To bezdotykowe rozwiązanie przepływowe służy do wykonywania pomiarów jakościowych w:
- procesach osadzania
- procesach odprężania
- procesach utraty właściwości
| Cienka folia przezroczysta | Cienka folia metaliczna |
|---|---|
| ITO (roztwór stały tlenku indu i tlenku cyny) | Aluminum |
| Nanorurki węglowe i nanopąki | Molibden |
| Powłoki grafenowe | Srebro |
| Metalowe nanodruty i nanosiatki | Miedź |
| Powłoki z nanocząstek | i wiele innych |
Oprogramowanie & obsługa
TOprogramowanie EddyCus® TF inline control jest wyposażone w moduły do przedstawiania danych, przechowywania ich, analizy i eksportu. System jest podłączony do komputera przemysłowego lub systemu realizacji produkcji (MES) za pośrednictwem sieci Ethernet, standardu RS 232 lub RS 485, co umożliwia wymianę danych.
- Reprezentacja rezystancji powierzchniowej lub grubości w czasie rzeczywistym
- Baza danych SQL umożliwiająca przechowywanie i analizę dużej ilości danych
- Możliwość analizowania danych, tworzenia statystycznych zestawień podsumowujących i raportów
- Dostępne są różne interfejsy
Przepływowe systemy pomiarowe
EddyCus® TF inline
Urządzenie EddyCus® TF inline wyposażono w rozwiązania do pomiaru rezystancji powierzchniowej oraz grubości warstw, które umożliwiają dokonywanie przepływowych pomiarów jakości i kontrolę procesów.
- Monitorowanie rezystancji powierzchni [omy na kwadrat]
- Monitorowanie grubości cienkich powłok [nm]
- Monitorowane grubości ścianek w przypadku podłoży o wysokiej i niskiej konduktywności [µm]
Działanie & konfiguracja
| EddyCus® TF inline | ||
|---|---|---|
| Odstępy pomiarowe | 1 / 5 / 10 / 25 / 50 mm (inne na żądanie) | |
| Liczba par czujników | 1-99 | |
| Podłoża | Szkło / folie PET / płytki krzemowe | |
| Warstwy przewodzące | Metale / TCO / CNT / nanoprzewody / grafen / siatka | |
| Zakres rezystancji powierzchniowej mierzony przez każdy czujnik |
0,001–10 omów na kwadrat < z dokładnością do 2% 10–100 omów na kwadrat < z dokładnością do 3% 100–1.000 omów na kwadrat < z dokładnością do 5% |
|
| Środowisko pracy | W próżni i poza nią <60°C (na żądanie <90°C) | |
| Częstotliwość analizowania próbek | 1 / 10 /50 /100 /1000 próbek na sekundę (większa liczba na żądanie) | |
| Grubość | 2 nm do 2 mm odpowiednio do wartości rezystancji powierzchniowej | |
| Dodatkowe zintegrowane funkcje pomiarowe | Grubość podkładu i transmisja optyczna/temperatury | |
| Dostępne dodatkowe wbudowane funkcje | Wyzwalacz sprzętowy/DMC lub czytnik kodów kreskowych | |
PRZEŚLIJ ŻĄDANIE WYCENY