Применение
- Архитектурное стекло
- Сенсорные экраны и плоские мониторы
- Системы ОСИД
- Системы «умного стекла»
- Прозрачная антистатическая пленка
- Фотоэлементы
- Устройства удаления льда и нагревания
- Батареи
Измерение сопротивления слоя
EddyCus® TF map 2525SR/5050SR специально разработан для бесконтактного определения в одной точке в реальном времени толщины и сопротивления слоя тонких пленок высокой и низкой электропроводности на стекле, кристаллической решетке, пластмассе или на фольге. Устройство позволяет выполнять точное и быстрое отображение, с пространственным разрешением, сопротивления слоя электропроводных пленок и отслеживания толщины металлической пленки. Эта система бесконтактного отображения хорошо подходит для следующих применений:
- Процессы осаждения
- Процессы отжига
- Процессы флотационного обогащения
| Прозрачная тонкая пленка | Металлические тонкие пленки |
|---|---|
| Прозрачный проводящий оксидный слой (оксид индия и олова, AZO, FTO) |
Алюминий |
| Углеродные нанотрубки и наноглазки | Молибден |
| Графеновые пленки | Серебро |
| Металлические нанопровода и наносетки | Медь |
| Пленки наночастиц | И многие другие |
Программное обеспечение и обращение
Используется удобное для пользователя программное обеспечение для конфигурации системы и анализа данных. Результаты процессов испытания иллюстрируются на графических дисплеях. Дополнительные гистограммы и инструменты ПО обеспечивают систему для детального измерения сопротивления.
- Быстрое автоматическое отображение
- Удобный для пользователя статистический анализ
- Функция анализа и экспорта данных
Сканирующие системы
EddyCus® TF map 2525SR /
EddyCus® TF map 5050SR
EddyCus® TF map 2525SR/5050SR – это прибор для быстрого отображения сопротивления слоя, толщины, однородности слоя, воздействий электропроводности и дефектов электропроводных пленок и систем тонких материалов на стекле, кристаллической пластинке и фольге. Имеются разные бесконтактные испытательные системы, пригодные для различных требований.
- Отслеживание сопротивления слоя [Ом/кв.]
- Отслеживание толщины тонкой пленки [нм]
- Отслеживание толщины стенки субстратов с низкой и высокой электропроводностью [мкм]
Рабочие данные и установка
| EddyCus® TF map 2525 SR | EddyCus® TF map 5050 SR | |
|---|---|---|
| Sheet Resistance Measurement | Yes | |
| Thickness Measurement | Yes | |
| Optical Transmission | Optional | |
| Anisotropy Determination | Optional | |
| Измерение сопротивления слоя | Бесконтактный сенсор вихревых токов | |
| Измерение толщины субстрата | Ультразвуковой датчик | |
| Макс. Площадь сканирования | 10 inch / 254 x 254 mm (больше по запросу) |
20 inch / 508 x 508 mm (больше по запросу) |
| Макс. толщина образца (определяет расстояния) |
2 / 5 / 10 / 14 mm (определяется по образцу с наибольшей толщиной) |
|
| Диапазон сопротивления слоя | 0,001 – 10 Ом/кв.< 2 % точности 10 – 100 Ом/кв.< 3 % точности 100 – 1.000 Ом/кв.< 5 % точности |
|
| Измерение толщины тонких пленок (напр., меди) |
2 nm - 2mm (В соответствии с сопротивлением слоя) |
|
| Время сканирования при шаге измерения @ 1 – 10 мм |
100 x 100 mm in 0.5 to 5 minutes 200 x 200 mm in 1.5 to 15 minutes |
200 x 200 mm in 1.5 to 15 minutes 300 x 300 mm in 3 to 30 minutes |
| Шаг сканирования | 1 / 2 / 5 / 10 mm (other on request) | |
| Размеры устройства (высота/ширина/длина) |
230 / 600 / 800 mm | 290 / 1180 / 900 mm |
| Вес | 27,0 kg | 120,0 kg |
| доступные усовершенствования | Metal thickness tester Anisotropy sheet resistance sensor Optical transmission sensors at 632 nm wavelength |
|
ЗАПРОС КОТИРОВКИ